產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱?是一種高低溫試驗(yàn)設(shè)備,由三個(gè)部分組成:高溫試驗(yàn)箱、低溫試驗(yàn)箱和樣品轉(zhuǎn)移箱。它能夠模擬真實(shí)環(huán)境下的溫度變化和熱沖擊,對(duì)被測(cè)試物品的性能和可靠性進(jìn)行測(cè)試評(píng)估。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于航空、航天、軍工、電子等領(lǐng)域,用于測(cè)試整機(jī)及零部件在高溫或低溫環(huán)境下的性能?
技術(shù)參數(shù):
標(biāo)準(zhǔn)沖擊箱內(nèi)箱尺寸大小可選擇:
容積27升對(duì)應(yīng)的:寬30x高30x深30cm;
容積50升對(duì)應(yīng)的:寬36x高35x深40cm;
容積80升對(duì)應(yīng)的:寬50x高40x深40cm;
容積100升對(duì)應(yīng)的:寬60x高40x深40cm;
容積150升對(duì)應(yīng)的:寬60x高50x深50cm;
容積250升對(duì)應(yīng)的:寬70x高60x深60cm;
標(biāo)準(zhǔn)溫度范圍可選擇:A:-40℃~150℃;B:-55℃~150℃;C:-65℃~150℃;
高溫發(fā)熱區(qū)高溫度:+60℃~+200℃
低溫制冷區(qū)低溫度:-10℃~-75℃;
升溫時(shí)間(高溫發(fā)熱區(qū)) :RT~200℃約需35min
降溫時(shí)間(低溫制冷區(qū)) :RT~-70℃約需85min
溫度恢復(fù)時(shí)間/轉(zhuǎn)換時(shí)間: ≤5min內(nèi) / ≤10sec內(nèi)
溫度控制精度/分布精度: ±0.5℃ / ±2.0℃
工作原理如下:
?高溫區(qū)?通過(guò)PID邏輯電路控制固態(tài)繼電器的導(dǎo)通或關(guān)斷時(shí)間比例,調(diào)節(jié)加熱器輸出功率大小,從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控溫。
?低溫區(qū)?通過(guò)篩檢程式和膨脹閥節(jié)流,使高溫氣體重新進(jìn)入運(yùn)作室蒸發(fā)器中吸熱并氣化,再被壓縮機(jī)吸入壓縮,反復(fù)運(yùn)作后使運(yùn)作室溫度降至要求。
?產(chǎn)品測(cè)試區(qū)?由儀器自動(dòng)控制高低溫氣閥,在低溫或高溫之間切換,分別與高溫箱或低溫箱形成閉路空氣循環(huán)系統(tǒng),迅速達(dá)到試驗(yàn)的目標(biāo)溫度?
三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱在多個(gè)領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用:
?航空、航天、軍工?:用于測(cè)試飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)、航空電子設(shè)備等裝備的性能和可靠性。
?電子領(lǐng)域?:用于測(cè)試電子元器件、集成電路等在高低溫溫度下的性能和穩(wěn)定性。
?其他領(lǐng)域?:還適用于金屬、塑料、橡膠等材料的測(cè)試,檢測(cè)材料在高溫和低溫環(huán)境下的化學(xué)變化或物理傷害?
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