主要適用于電子、電器、光纖、LED、LCD、晶體、光電、電感、PCB、電腦、電池、手機(jī)、汽車配件等產(chǎn)品或材料做耐高溫、耐低溫、耐溫濕交變循環(huán)或恒定試驗(yàn)。深圳恒溫恒濕試驗(yàn)箱/高低溫和濕度試驗(yàn)箱是指溫度范圍在-40℃至150℃中間可任意設(shè)定其中個溫度做恒定做試驗(yàn),或者在-40℃至150℃之間的溫度里設(shè)定多個溫度做來做程序循環(huán)交變試驗(yàn)的恒溫恒濕試驗(yàn)箱。

深圳恒溫恒濕試驗(yàn)箱/高低溫和濕度試驗(yàn)箱滿足及符合如下標(biāo)準(zhǔn)：性能指標(biāo)均符合GB5170、2、5-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB2423.1-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法GB/T 2423.22-2002；GB/T 5170.2-2008《溫度試驗(yàn)設(shè)備》；GB/T 5170.5-2008《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》；GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。

/高低溫和濕度試驗(yàn)箱型號和尺寸
型號          溫度范圍     濕度范圍     內(nèi)尺寸（W*H*D）   外箱尺寸（W*H*D）
AP-HX-80A    0~150℃      20%~98%     400*500*400mm     980*1380*990mm
AP-HX-150B  -20~150℃     20%~~98%    500*600*500mm     1080*1500*1080mm
AP-HX-225C  -40~150℃     20%~~98%    500*750*600mm     1100*1620*1180mm
AP-HX-408D  -60~150℃     20%~~98%    600*850*800mm     1200*1720*1280mm
AP-HX-800D  -70~150℃     20%~~98%    1000*1000*800mm   1560*1860*1350mm
AP-HX-1000D  -70~150℃    20%~~98%    1000*1000*1000mm  1560*1860*1550mm
A:0℃~150 ℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D:-60℃~150℃；  D:-70℃~150℃；備注以上溫度范圍可很有任意選擇套用在不同的尺寸上做報價方案及生產(chǎn)。即不可的尺寸大小也可以套用不同的溫度范圍。
溫度范圍：0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃～+100℃(+150℃)
濕度范圍：20%～98%RH
溫度均勻度：≤2℃
溫度波動度：≤0.5℃
濕度誤差：+2/-3%RH
升溫速率：≥2-3℃/min
降溫速率：≤1℃/min

/高低溫和濕度試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)配置:物料架2層,機(jī)體左側(cè)50mm測試孔1只,附不銹鋼孔蓋1只,濕布2片,硅膠塞頭1只,容絲保險管2個,活動腳輪4個,固定腳杯4個。

溫度在-40到150度的恒溫恒濕試驗(yàn)箱還有不同規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型和不同溫度范圍可供選擇；還可以根據(jù)客戶需求非標(biāo)定制。